Dieses Webinar richtet sich an Ingenieure, die im digitalen Design im High-Speed Bereich und dessen Prüfung arbeiten.
Insbesondere werden wir die Details der elektrischen Konformitätsprüfung von USB 3.2 Gen 1 und Gen 2 besprechen.
Während der Sitzung erhalten Sie Einblicke in die Anforderungen und Testaufbauten für Empfänger- (Rx) und Sender- (Tx) Tests, wobei Themen wie Spreizspektrumstaktung, Jitter- und Augendiagrammanalyse, Pre-Shoot/De- Emphasis und mehr behandelt werden. Wir werden potenzielle Fehlerquellen untersuchen, wenn die Konformitätsprüfung fehlschlägt, und die Verwendung von Tools erörtern, die dabei helfen, die Grundursachen für Konformitätsfehler zu identifizieren.
Hinweis: Falls Sie an einer der Webinarsitzungen nicht teilnehmen können, melden Sie sich bitte ebenfalls auf der Registrierungsseite an, und wir senden Ihnen die Aufzeichnung nach Beendigung des Webinars zu.